- E. Bullock (Inst. Phys. Exp, Lausanne) : Photodiffraction: l’ordre atomique à courte distance des surfaces et interfaces.
- A. Stuck (Inst. Phys., Fribourg) : Inversion holographique des diagrammes de diffraction mesurés par XPD : une revue.
- O. Acher (CEA, Bruyère Le Chatel) : Une nouvelle technique de caractérisation des couches cristallines en lumière polarisée : la réflectance anisotrope.
- A. M. Cazabat (LPMC Collège de France, Paris) : Le mouillage : du microscopique au macroscopique.
- D. Chatain (LTPCM, Grenoble) : Propriétés physico-chimiques des interfaces métal liquide/céramique : mouillage macroscopique.
- J. J. Métois (CRMC2, Marseille) : Fluctuations thermiques des gradins sur une surface (111) de silicium.
- A. M. Bonnot (LEPES, Grenoble) : Le diamant e couches minces.
- R. Kofman (LPMC, Nice) : Les inclusions : un systèmes aux avantages expérimentaux uniques pour l’étude de la transition de phase solide-liquide.
- P. Thiry (LISE, Namur) : Etude du C60 par spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons à haute résolution : de l’infra-rouge lointain à l’ultra-violet vide.
- C. Bréchignac (Lab. Aimé Cotton, Orsay) : Les agrégats métalliques.
- B. Didillon (Inst. Français du Pétrole, Paris) : Préparation et caractérisation de nouveaux systèmes bi-métalliques Rh-Sn supportés, finement divisés.
- M. Froment (Physique des Liquides et Electrochimie, Paris) : L’électrocristallisation : importance des phénomènes interfaciaux.
- C. Noguera (LPS, Orsay) : Vers une approche de l’adhésion de polymères polaires sur des oxydes isolants.
- J. Oudar (LPCS, Paris) : Importance des phénomènes de germination dans l’oxydation et la sulfuration des métaux.
- D. Aberdam (LSP, Grenoble) : Caractérisation des interfaces électrochimiques par spectroscopie Auger et LEED, EXAFS in-situ.
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